Техническая спецификация на кварц искусственный пьезоэлектрический.
Все испытания качества кристаллов проводятся по Стандарту МЭК (IEC 60758(2016)
1. Модификация – правая (RH).
2. Добротность Q≥1,8х106.
3. Сорт по плотности включений указан в Таблице 1 .
Таблица 1.
| Сорт | Плотность включений не более, шт./см3 | |||
| (10-30) мкм | >(30-70) мкм | >(70-100) мкм | > 100 мкм | |
| Ib | 3 | 2 | 1 | 1 |
| I | 6 | 4 | 2 | 2 |
| II | 9 | 5 | 4 | 3 |
4. Сорт по плотности каналов указан в Таблице 2.
Таблица 2.
| Сорт | Плотность каналов травления, шт./см2 |
| 1 | 10 |
| 2 | 30 |
| 3 | 100 |
| 4 | 300 |
5. Размеры кристаллов:
5.1 По оси Y ≥ 200 мм
5.2 По оси Х – не менее 70 мм.
5.3 По оси Z ( Zэфф.)– должны соответствовать указанным в Таблице 3. При этом за размер по оси Z принимается минимальный размер толщины кристалла.
Таблица 3.
| Условное обозначение группы при заказе | Zэфф, мм |
| 2.10 | От 23 до 32,9 вкл. |
| 2.15 | От 33 до 42,9 вкл. |
| 2.20 | От 43 до 52,9 вкл. |
| 2.25 | От 53 до 62,9 вкл. |
| 2.30 | От 63 до 72,9 вкл. |
| 2.35 | От 73 до 82,9 вкл. |
| 2.40 | От 83 до 92,9 вкл. |
| 2.45 | От 93 до 102,9 вкл. |
| 2.50 | От 103 и более |
6. Требования к затравке:
6.1 Ориентация поверхности XY относительно осей X и Y –0+/- 30’
6.2 Размер затравки по оси Z в выращенном кристалле – не более 2,0 мм.
6.3 Размер по оси Х от 67 мм и более
6.4 Допускается непрямоугольная форма , минимальный размер призм более 60 мм (уточняется отдельно перед заказом);
7. В кристаллах не допускается наличие двойников, проколов и трещин в Z-зоне.
8. В кристаллах допускаются:
Допустимые дефекты согласовываются при заказе.
9. Маркировка.
Уточняется отдельно перед заказом.
10. Упаковка.
Упаковка обеспечивает сохранность кристаллов во время транспортировки.
Спецификация на односторонние кристаллы
Specification for One-side as-grown quartz crystals
1. Scope
This specification relates to pure-Z “As Grown” synthetic quartz one-side crystals for optical use.
Область применения
Эта спецификация относится к односторонним синтетическим кристаллам кварца Z- среза для оптического применения.
2. Technical characteristics
Технические характеристики
2.1 Handedness: right-handed (RH)
Модификация: правая (RH)
2.2 Outside dimensions (see Fig. 1;Fig. 2) Внешние размеры (см. рис. 1, рис.2).
| Orientation angle of seed Ориентация затравки |
0° 0° |
| Xs dimension of seed Xs размер затравки |
80.0 +/- 2 mm 80.0 +/- 2 мм |
| X eff. dimension of crystal X эфф. размер кристалла |
X eff.= Xs= 80.0 +/-2 mm X эфф.= Xs= 80.0 +/-2 мм |
| Z dimension of crystal (Z eff. IEC 60758)
Z размер кристалла (Z эфф. по МЭК60758) |
≥22.0 mm, (for example: 29.0 – 37.9 mm; ≥41.0 mm; or by agreement) ≥22.0 мм, (например: 29.0 – 37.9 мм; ≥41.0 мм; или по согласованию) |
| Z eff. dimension of effective area
Z эфф. размер эффективной зоны |
≥20.0 mm, (for example: 27.0 – 35.9 mm;≥39.0 mm; or by agreement)
≥20.0 мм, (например: 27.0 – 35.9 мм; |
| Y dimension of seed Y размер затравки |
200 mm or more 200 мм или более |
2.3 Angular tolerance of seed Допуски ориентации затравки
| Angular deviation of –Xseed from axes Y and Y’ Отклонение –X затравки от осей Y и Y’ |
0° 00’ +/- 15’ |
| Angular deviation of –Xseed from axes Z and Z’ Отклонение –X затравки от осей Z и Z’ |
0° 00’ +/- 15’ |
| Angular deviation of seed Z surface from axes Y and Y’ Отклонение Z-поверхности затравки от осей Y и Y’ |
0° 00’ +/- 30’ |
| Angular deviation of seed Z surface from axes X and X’ Отклонение Z-поверхности затравки от осей X и X’ |
0° 00’ +/- 30’ |
2.4 Angular tolerance of lumbered surfaces Допуски ориентации обработанных поверхностей
| The angular tolerance of the +X surface from YY’ Допуск ориентации +X поверхности к оси YY’ |
0° 00’ +/- 15’ |
| The angular tolerance of +X surface from ZZ’ Допуск ориентации +X поверхности к оси ZZ’ |
0° 00’ +/- 15’ |
| The angular tolerance of Z surface from YY’ Допуск ориентации Z поверхности к оси YY’ |
0° 00’ +/- 30’ |
| The angular tolerance of Z surface from XX’ Допуск ориентации Z поверхности к оси XX’ |
0° 00’ +/- 30’ |
2.5 Twins Двойники The effective area of crystal (see Fig. 1; Fig. 2) should not include neither electrical nor optical twins.
Эффективная зона кристалла (см. рис. 1, рис. 2) не должна содержать электрических и оптических двойников.
2.6 Cracks, chips and bubble Трещины, сколы и пузыри
2.6.1 The effective area of crystal (see Fig. 1; Fig. 2) should not include any crack, chip and bubble which might be affected to electrical parameters of devices.
Эффективная зона кристалла (см. рис. 1, рис. 2) не должна содержать трещин, сколов и пузырей, которые могут повлиять на электрические характеристики изделия.
2.6.2 Mechanical processing of all surfaces is permitted, retaining the dimensions of the bar according to item 2.2.
Допускается механическая обработка всех поверхностей с сохранением размеров кристалла, указанных в п. 2.2.
2.7 Inclusion density Плотность включений
Inclusion density of the effective area should not exceed standard corresponding to “Grade Ia” as per IEC 60758.
Плотность включений в эффективной зоне не должна превышать стандарта, соответствующего сорту Ia по МЭК 60758.
2.8 Q-value (IEC 60758)
By agreement
Добротность (МЭК 60758)
По согласованию
2.9 Etch channel density Плотность каналов травления
Etch channel density by IEC 60758.
Плотность каналов травления по МЭК 60758.
3 Marking Маркировка
Mark the following things on the seed surface: Productions lot No
Маркировка на поверхности затравки включает в себя: № цикла
4 Packing Упаковка
Pack up so that the damage on breakage, cracking, chipping, etc. does not arise during transportation.
Упаковка должна защищать от поломки, трещин и сколов во время транспортировки.
Fig. 1 Effective area figure Рис. 1 Рисунок эффективной зоны
Fig. 2 Effective area figure Рис. 2 Рисунок эффективной зоны
Техническая спецификация на цветной кварц.
| №п/п | Наименование параметра | цитрин | зелёный | синий | аметист | дымчатый |
| 1. | Размеры кристаллов по оси, мм | |||||
| Z (Y’), не менее | 25 | 25 | 25 | 23 | 25 | |
| Y (Z’), не менее | 170 | 170 | 170 | 22 | 22 | |
| X, не менее | 60 | 60 | 60 | 170 | 100 | |
| 2. | Интенсивность окраски | |||||
| 2.1 | Марка – экстра | КА-Э | ||||
| Длина волны, нм | 550 | |||||
| Оптическая плотность, не менее | 1,5 | |||||
| 2.2 | Марка – 1 | КЦ-1 | КЗ-1 | КС-1 | КА-1 | КД-1 |
| Длина волны, нм | 500 | 700 | 590 | 550 | 430 | |
| Оптическая плотность, не менее | 0,8 | 1,6 | 0,5 | 1,3 | 1,3 | |
| 2.3 | Марка – 2 | КЦ-2 | КЗ-2 | КС-2 | КА-2 | КД-2 |
| Длина волны, нм | 500 | 700 | 590 | 550 | 430 | |
| Оптическая плотность, не менее | 0,15 | 0,8 | 0,1 | 1,0 | 0,4 | |
| 3. | Допустимые особенности | |||||
| 3.1 | Сорт 1 | – любые особенности в зоне затравки (зона – до 5 мм), в т.ч. треск и расслоения;
– трещины в зоне подвески, выходящие в полезную зону до 10 мм; – двойники без трещин; – проколы (в наросшем слое; от базиса; от затравки); двойники с трещинами; лепестковые трещины в наросшем слое – до 5 шт. глубиной до 7 мм; – стеснённый рост, с обеспечением минимальной толщины по п.1; – трещины по периферии кристалла глубиной до 5 мм и сколы размером не более (10*10) мм и глубиной до 5 мм |
||||
| Сорт 2 | – любые особенности в зоне затравки (зона – до 10 мм), в т.ч. треск и расслоения;
– трещины в зоне подвески, выходящие в полезную зону до 20 мм; – проколы (в наросшем слое; от базиса; от затравки); двойники с трещинами; лепестковые трещины в наросшем слое; – стеснённый рост, с секущими трещинами с обеспечением минимальной толщины по п.1; – трещины в полезной зоне, в т.ч. и секущие – до3 шт |
|||||
| Сорт 3 | – трещины в зоне подвески, выходящие в полезную зону до 50% по объёму;
– трещины в полезной зоне, в т.ч. и секущие – до 6 шт – уменьшение минимальной длины кристалла по п.1на 20 мм |
|||||
| 4. | Маркировка | Кристаллы маркируются бумажной этикеткой с указанием номера цикла | ||||
| 5. | Упаковка | Способ упаковки должен предохранять кристаллы от повреждений во время транспортировки. | ||||
Спецификация на секции из кристаллов синтетического кварца.
Испытания качества кристаллов, из которых изготавливаются секции, проводятся по Стандарту МЭК (IEC) 60758(2016)
1. Модификация – правая.>
2. Добротность Q >= 1,8 x106
3. Плотность каналов травления
| Сорт | Плотность каналов травления, шт./см2 |
| 1 | 10 |
| 2 | 30 |
| 3 | 100 |
| 4 | 300 |
4. Плотность включений
| Сорт | Плотность включений не более, шт./см3 | |||
| (10-30) мкм | >(30-70) мкм | >(70-100) мкм | > 100 мкм | |
| Ib | 3 | 2 | 1 | 1 |
| I | 6 | 4 | 2 | 2 |
| II | 9 | 5 | 4 | 3 |
5. Размеры. Уточняются отдельно перед заказом
6. Ориентация:
- «Z»поверхностей относительно осей «X» и «Y» – +/-15 мин,
- «-X»поверхности относительно осей «Z» и «Y» – +/-10 мин.
7. В секции не допускается наличие двойников, трещин.
8. В секции допускаются особенности, которые уточняются отдельно перед заказом.
9. Шероховатость обработанных поверхностей Ra не более 2,5.
10.Неплоскостность «Х» и «Z» поверхностей не более 0,05 мм.
11.Непараллельность «Х» поверхностей не более 0,2 мм.
12.Затравка должна располагаться в центральной части секции в зоне 3,5 мм; Zзатр. < 2,5 мм.
13.Маркировка. Уточняется отдельно перед заказом
14.Упаковка. Поставка секций производится в упаковке, обеспечивающей их защиту от повреждений при транспортировке
Техническая спецификация на химически чистый кварц .
1. Размер по Z не превышает 60 мм;
2. Содержание примесных элементов не должно превышать следующие показатели, ppm:
| Al | 5.0 |
| Ca | 0.6 |
| Mg | 0.1 |
| Fe | 0.5 |
| Na | 2.5 |
| K | 0.5 |
| Li | 2.0 |
| Ti | 0.4 |
| Cr, Cu, V, Mn, Ni. | 0.1 |
3. Внутри кристаллов кварца могут находиться остатки металлической подвески.
