Техническая спецификация на кварц искусственный пьезоэлектрический по МЭК  60758.

  1. Модификация – правая (RH).
  2. Добротность по МЭК 60758, измеренная по инфракрасному спектру. Q≥1,8х106
  3. Сорт по плотности включений (в соответствии с МЭК 60758), указан в Таблице 1 .

Таблица 1.

Сорт Плотность включений не более, шт./см3
(10-30) мкм >(30-70) мкм >(70-100) мкм > 100 мкм
Ib 3 2 1 1
I 6 4 2 2
II 9 5 4 3
  1. Сорт по плотности каналов травления  (в соответствии с МЭК 60/758 )  указан в таблице 2

Таблица 2

Сорт Плотность каналов травления, шт./см2
1 10
2 30
3 100
4 300
  1. Размеры кристаллов
  2. 5.1 По оси Y ≥ 200 мм
    5.2 По оси Х – не менее 70 мм.
    5.3 По оси Z ( Zэфф. По МЭК 60758)– должны соответствовать указанным в Таблице 3. При этом за размер по оси Z принимается минимальный размер  толщины кристалла.

Таблица 3.

Условное обозначение группы при заказе Zэфф, мм
2.10 От 23 до 32,9 вкл.
2.15 От 33 до 42,9 вкл.
2.20 От  43 до 52,9 вкл.
2.25 От  53 до 62,9 вкл.
2.30 От  63 до 72,9 вкл.
2.35 От  73 до 82,9 вкл.
2.40 От  83 до 92,9 вкл.
2.45 От  93 до 102,9 вкл.
2.50 От  103 и более
  1. Требования к затравке.
  2. 6.1 Ориентация поверхности XY относительно осей X и Y –0+/- 30’
    6.2 Размер затравки по оси Z в выращенном кристалле – не более 2,0 мм.
    6.3 Размер по оси Х от 67 мм   и  более
    6.4 Допускается непрямоугольная форма , минимальный размер призм более 60 мм (уточняется отдельно перед заказом);

  1. В кристаллах не допускается наличие двойников, проколов и трещин в Z-зоне.
  2. В кристаллах допускаются:
    • стесненный рост в зонах (-Х),(+Х), на пинакоиде при сохранении минимального размера по оси Z ;
    • дефекты в первом миллиметре наросшего на затравку слоя,
    • трещины, двойники и проколы по ромбоэдрам с выходом на Z-поверхность до 10 мм;
    • сколы на ребрах, выходящие на смежные грани, размером не более 5мм,
    • фазовый ( белый ) налет на поверхности кристаллов и затравки,
    • трещины:
      • на гексагональных призмах и гранях ромбоэдров,
      • от подвески, идущие вдоль оси Z,
      • вдоль оси Z от технологического запила, примыкающая к грани гексагональной призмы;
    • двойники на –Х поверхности высотой не более 2 мм,
    • остатки подвески в виде остатков проволоки или «клипсы». Глубина проволочной подвески – не более 10 мм с одной стороны кристалла. Глубина «клипсов» – 3 мм на обеих сторонах кристалла,
    • дефекты в зонах (+Х), (-Х) не нормируются.
  1. Маркировка.
  2. Уточняется отдельно перед заказом.

  1. Упаковка.
  2. Упаковка обеспечивает сохранность кристаллов во время транспортировки.

Техническая спецификация на односторонние кристаллы синтетического кварца.
1. Наименование продукции: односторонние кристаллы синтетического кварца
2. Модификация – правая (RH).
3. Добротность по МЭК 60758 – не менее 1,8х106
4. Плотность включений по МЭК 60758 (см таблицу 1)
Таблица 1

Сорт Плотность включений не более, шт./см3
(10-30) мкм >(30-70) мкм >(70-100) мкм > 100 мкм
2 1 0 0
Ib 3 2 1 1

5. Плотность каналов травления по МЭК 60758 – не хуже сорта (см таблицу 2)
Таблица 2

Сорт Плотность каналов травления, шт./см2
1 10
2 30
3 100


6. Размеры:
по оси Z  – не менее 23 мм ;
по оси Y – не менее 200 мм
Zэфф., Z полезная, Хэфф.,Yэфф. – см таблицу 3 и рис.1,2,3.

Таблица 3

Сорт Zэфф., мм Z полезная ,мм  Yэфф.,мм(рис. 1) Хэфф.,мм(рис. 1)
Фигура 1 (Фиг.1) Zэфф.>=21 рис.1 рис.1
Фигура 2 (Фиг.2) Zэфф.>=21 рис.2 рис.2
2 Zполезная;=18

(рис.3)

Yэфф>=110

(рис.3)

Хэфф>=50

(рис.3)

3 Z полезная>=18

(рис.3)

Yэфф>=110

(рис.3)

Хэфф=(20-40)

(рис.3)


7. Затравка:

7.1 Размеры:
по оси X затр. =80+/-2 мм;
по оси Z в блоке –  не более 2 мм
по оси Y – не менее 200 мм

7.2 Допуски ориентации поверхностей – см. таблицу 4

Таблица 4

– Х-поверхности относительно осей YY´ и ZZ´ 0º  00´ +/- 15´
Z-поверхности относительно осей XX´ и YY´ 0º  00´ +/- 30´

8. Дефекты
Не допускаются оптические и электрические двойники, трещины и проколы в эффективной (полезной) зоне (рис.1,2,3)
Допускаются:
– любые дефекты, расположенные за пределами  Хэфф., Yэфф., Zэфф., Zполез.:
– остатки металлических креплений ;
– стесненный рост в зонах (-Х),(+Х), на пинакоиде при сохранении минимального размера по оси Z ;

  • дефекты в первом миллиметре наросшего на затравку слоя,
  • сколы на ребрах, выходящие на смежные грани, размером не более 5мм,
  • фазовый ( белый ) налет на поверхности кристаллов и затравки,

9. Особенности
Допускается механическая обработка всех поверхностей.

10. Маркировка
Маркировка на поверхности затравки включает в себя: № цикла

11. Упаковка
Упаковка осуществляется в картонные коробки и предохраняет кристаллы от повреждения при транспортировке

 


рисунок 1.

рисунок 2.

рисунок 3.

Техническая спецификация на цветной кварц.

№п/п Наименование параметра цитрин зелёный синий аметист дымчатый
1. Размеры кристаллов по оси, мм
Z (Y’), не менее 25 25 25 23 25
Y (Z’), не менее 170 170 170 22 22
X, не менее 60 60 60 170 100
2. Интенсивность окраски
2.1 Марка – экстра КА-Э
Длина волны, нм 550
Оптическая плотность, не менее 1,5
2.2 Марка – 1 КЦ-1 КЗ-1 КС-1 КА-1 КД-1
Длина волны, нм 500 700 590 550 430
Оптическая плотность, не менее 0,8 1,6 0,5 1,3 1,3
2.3 Марка – 2 КЦ-2 КЗ-2 КС-2 КА-2 КД-2
Длина волны, нм 500 700 590 550 430
Оптическая плотность, не менее 0,15 0,8 0,1 1,0 0,4
3. Допустимые особенности
3.1 Сорт 1 – любые особенности в зоне затравки (зона – до 5 мм), в т.ч. треск и расслоения;

– трещины в зоне подвески, выходящие в полезную зону до 10 мм;

– двойники без трещин;

– проколы (в наросшем слое; от базиса; от затравки); двойники с трещинами; лепестковые трещины в наросшем слое – до 5 шт. глубиной до 7 мм;

– стеснённый рост, с обеспечением минимальной толщины по п.1;

– трещины по периферии кристалла глубиной до 5 мм и сколы размером не более (10*10) мм и глубиной до 5 мм

Сорт 2 – любые особенности в зоне затравки (зона – до 10 мм), в т.ч. треск и расслоения;

– трещины в зоне подвески, выходящие в полезную зону до 20 мм;

– проколы (в наросшем слое; от базиса; от затравки); двойники с трещинами; лепестковые трещины в наросшем слое;

– стеснённый рост, с секущими трещинами с обеспечением минимальной толщины по п.1;

– трещины в полезной зоне, в т.ч. и секущие – до3 шт

Сорт 3 – трещины в зоне подвески, выходящие в полезную зону до 50% по объёму;

– трещины в полезной зоне, в т.ч. и секущие – до 6 шт

– уменьшение минимальной длины кристалла по п.1на 20 мм

4. Маркировка Кристаллы маркируются бумажной этикеткой с указанием номера цикла
5. Упаковка Способ упаковки должен предохранять кристаллы от повреждений во время транспортировки.

Спецификация на секции из кристаллов синтетического кварца.

  1. Модификация – правая.
  2. Добротность Q >= 1,8 x106 по МЭК 60758
  3. Плотность каналов травления – не хуже сорта по МЭК 60758:
Сорт Плотность каналов травления, шт./см2
1 10
2 30
3 100
4 300
  1. Плотность включений – не хуже сорта по МЭК 60758
Сорт Плотность включений не более, шт./см3
(10-30) мкм >(30-70) мкм >(70-100) мкм > 100 мкм
Ib 3 2 1 1
I 6 4 2 2
II 9 5 4 3
  1. Размеры. Уточняются отдельно перед заказом
  1. Ориентация:
    • «Z»поверхностей относительно осей «X» и «Y» – +/-15 мин,
    • «-X»поверхности относительно осей «Z» и «Y» – +/-10 мин.
  1. В секции не допускается наличие двойников, трещин.
  2. В секции допускаются особенности, которые уточняются отдельно перед заказом.
  3. Шероховатость обработанных поверхностей Ra не более 2,5.
  4. Неплоскостность «Х» и «Z» поверхностей не более 0,05 мм.
  5. Непараллельность «Х» поверхностей не более 0,2 мм.
  6. Затравка должна располагаться в центральной части секции в зоне 3,5 мм; Zзатр. < 2,5 мм.
  7. Маркировка. Уточняется отдельно перед заказом
  8. Упаковка. Поставка секций производится в упаковке, обеспечивающей их защиту от повреждений при транспортировке

Техническая спецификация на химически чистый кварц .

  1. Размер по Z не превышает 60 мм;
  1. Содержание примесных элементов не должно превышать следующие показатели, ppm:
Al 5.0
Ca 0.6
Mg 0.1
Fe 0.5
Na 2.5
K 0.5
Li 2.0
Ti 0.4
Cr, Cu, V, Mn, Ni. 0.1
  1. Внутри кристаллов кварца могут находиться остатки металлической подвески.